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高德英特與ULVAC-PHI用戶會推出XPS重量級新品
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在“2016年全國表面分析科學與技術應用學術會議”召開的前一天，即2016年8月10日，高德英特公司與ULVAC-PHI公司在昆明理工大學舉辦了“2016中國表面分析應用與學術用戶會議暨ULVAC-PHI最新技術說明會”。50余名ULVAC-PHI的用戶、以及從事表面分析技術研究與應用的專家學者參加了會議。
ULVAC-PHI 為全球專業的表面分析儀器制造商，是唯一可提供四種表面成分分析設備的廠商。其產品包括光電子能譜儀(XPS)，俄歇電子能譜儀(AES)，飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)和動態二次離子質譜儀(D-SIMS)。據介紹，ULVAC-PHI旗下的XPS約占世界份額的60%，其產品定位于高端XPS，性能被行業內專家學者認可，是目前唯一提供掃描聚焦型X-ray源的廠家，真正實現了XPS的微區分析能力。AES系統采用專利設計的筒鏡式(CMA)能量分析器，實現高空間分辨率、高靈敏度的同時，避免了表面形貌對俄歇成像的陰影效應。TOF-SIMS獨特的三重聚焦分析器(TRIFT Analyzer)，能夠最大限度的提高二次離子質譜的景深，對表面粗糙樣品也可輕松處理。與此同時，ULVAC-PHI提供最高靈敏度四級桿式D-SIMS，可高效快速完成動態SIMS分析。而且除了表面分析儀器以外，ULVAC-PHI還同時研發配置在相關儀器的外圍配件。
高德英特公司是ULVAC-PHI在中國區域銷售及售后服務的全權代表，二者于2007年建立了戰略合作伙伴關系。高德英特公司擁有8位資深技術支持工程師，全部得到原廠的資質認證，能夠為用戶提供最完整的解決方案。 目前，ULVAC-PHI在中國的用戶主要包括清華大學、廈門大學、南京大學、南京理工大學、北京理工大學等國內知名高校和院所。
木村市朗先生和陳文征博士分別致辭，共同表達了ULVAC-PHI和高德英特公司是一個團隊，代表了“PHI在中國”;并歡迎用戶對ULVAC-PHI的儀器和服務多提意見，今后將加強和用戶的交流。用戶會上，ULVAC-PHI和高德英特公司還鄭重感謝了20多年來給予PHI眾多幫助的曹立禮和劉慶華老師。在PHI的產品進入中國市場之初，兩位老師為了PHI儀器更好得到應用做出了杰出的貢獻。
ULVAC-PHI亞洲區銷售經理柴崎琢自先生和高德英特公司中國區總監葉上遠先生介紹了ULVAC-PHI在全球和中國的發展。同時，葉上遠先生與ULVAC-PHI的真田憲明博士、宮山卓也先生分別介紹了新產品、新技術、新應用。
葉上遠先生介紹了ULVAC-PHI剛剛全球發布的多功能掃描XPS微探針VersaProbe III。全新的VersaProbe III采用了獨特的聚焦X-ray源和全新的輸入透鏡、探測器，性能指標全面提升。令人影響深刻的是，相對于上一代產品Versaprobe II，新品的靈敏度提高了3倍。尤其在微區分析方面，相比于其他XPS，新品的靈敏度提高了100倍。VersaProbe III的多功能平臺為中國科研和研發領域的未來發展提供了廣大的可能，使得以XPS為核心的表面分析技術具有更多的分析可能和意義。
這次會上，ULVAC-PHI還推出了一項用于PHI nano TOF II的MS/MS技術。關于該新技術的應用，葉上遠先生說到，過去對于201m/z處的峰是什么多是需要去“猜”，而現在有了MS/MS技術，大家則可以完全確定的知道是什么。
高德英特公司還邀請了勝科納米的華佑南博士、勀杰科技的劉伯純先生作報告，二位都是ULVAC-PHI用戶，利用ULVAC-PHI的儀器做出了很多的有意義的工作。
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